Infineon Gate-Treiber-Modul Gate-Treiber 9 A PG-DSO 40 V 15 ns
- RS Best.-Nr.:
- 258-0594
- Herst. Teile-Nr.:
- 1ED3890MU12MXUMA1
- Hersteller:
- Infineon
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Technische Daten des gezeigten Artikels
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | Infineon | |
| Produkt Typ | Gate-Treiber-Modul | |
| Ausgangsstrom | 9A | |
| Gehäusegröße | PG-DSO | |
| Abfallzeit | 15ns | |
| Treiber-Typ | Gate-Treiber | |
| Minimale Versorgungsspannung | 40V | |
| Maximale Versorgungsspannung | 40V | |
| Betriebstemperatur min. | -40°C | |
| Maximale Betriebstemperatur | 125°C | |
| Normen/Zulassungen | No | |
| Automobilstandard | Nein | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke Infineon | ||
Produkt Typ Gate-Treiber-Modul | ||
Ausgangsstrom 9A | ||
Gehäusegröße PG-DSO | ||
Abfallzeit 15ns | ||
Treiber-Typ Gate-Treiber | ||
Minimale Versorgungsspannung 40V | ||
Maximale Versorgungsspannung 40V | ||
Betriebstemperatur min. -40°C | ||
Maximale Betriebstemperatur 125°C | ||
Normen/Zulassungen No | ||
Automobilstandard Nein | ||
Der isolierte Gate-Treiber-IC von Infineon in einem kleinen PG-DSO-16-Gehäuse mit einem großen Kletteralter und einem Abstand von 8 mm. Die Gate-Treiber-ICs bieten einen typischen Spitzenausgangsstrom von 3 A, 6 A und 9 A. Einstellbare Steuerungs- und Schutzfunktionen sind enthalten, um das Design hochzuverlässiger Systeme zu vereinfachen. Alle Parametereinstellungen werden von der Eingangsseite über die I2C-Schnittstelle vorgenommen. Alle Logik-E/A-Stifte sind versorgungsspannungsabhängig, 3,3 V oder 5 V CMOS-kompatibel und können direkt an einen Mikrocontroller angeschlossen werden. Die Datenübertragung über die galvanische Trennung erfolgt durch die integrierte kernlose Transformatortechnologie.
I2C-Bus für Parameterkonfiguration und Statusregisterauslesung
Präzise, einstellbare und temperaturkompensierte VCEsat-Erkennung (DESAT) mit Fehlerausgang
Einstellbare weiche IGBT-Abschaltung nach Entlastungserkennung
Enge IC-zu-IC-Ausbreitungsverzögerung (tPDD, max. = 30 ns)
Konfigurierbares Feedback oder Fehlersicherungsverhalten für Komparatorergebnis des integrierten ADC
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