IC-Testclips

Integrierte Testclips (IC-Testclips) sind ein zentrales Werkzeug in der Elektronik. Sie gewährleisten eine sichere formschlüssige Verbindung mit allen Chip-Kabeln und ermöglichen ein freihändiges Testen. IC-Testclips werden für Produktionstests, Qualitätssicherungsinspektionen und den Außendienst eingesetzt.

Wie funktionieren IC-Testclips?

IC-Testclips verfügen über Scharnierstifte aus Stahl und robuste Körper aus Polyester. Die meisten IC-Testclips sind mit oberen Kontakten zum Befestigen der Verdrahtung und unteren Kontakten für Ihren gewählten IC erhältlich. Die Klemmen erleichtern die Prüfung innerhalb von Schaltkreisen, indem sie den Zugang zu den Kabeln bereitstellen und dabei die Gefahr von Kurzschlüssen ausschließen.

Arten von IC-Testclips

IC-Testclips können über einen Nagelkopf oder "kopflose" Kabel für unterschiedliche Anwendungen verfügen. Alle IC-Testclips besitzen robuste Druckfedern für formschlüssigen Kontaktdruck mit Kontaktbarrieren. Dies verhindert versehentliche Kurzschlüsse. Sie sind mit verschiedenen Stiftkontakten ausgestattet, die für Stiftbuchsen, Wire-Wrap oder Überbrückungskabel geeignet sind. IC-Testclips sind in verschiedenen Kontaktbeschichtungen einschließlich Nickel und Silber erhältlich. Am häufigsten wird eine Vergoldung eingesetzt, da sie für eine zuverlässige, störungsfreie Verbindung sorgt.