onsemi NIS5020 Evaluierungsplatine, Strata Enabled eFuse EVB Elektroniksicherung

Die ON Semiconductor-Evaluierungsplatine für die NIS5020 eFuse innerhalb der Strata-Entwicklungsumgebung bietet eine programmierbare Auslösestromgrenze, eine programmierbare Anstiegsrate und thermische Schutzfunktionen. Das Evaluierungsboard bietet eine Kurzschlusslast auf der Platine, um die Kurzschlussschutzfunktionen der eFuse zu testen. Diese Evaluierungsplatine muss mit Strata verwendet werden, um die eFuse zu steuern und Telemetrie wie Eingangs-/Ausgangsspannung, Eingangs-/Ausgangsstrom und Temperatur zu überwachen.

Vin-Bereich von 9,2 V bis 18 V
Mehrere Überlaststromoptionen
2 unabhängig gesteuerte eFuses, die parallel geschaltet werden können
Programmierbare Anstiegsgeschwindigkeit