STMicroelectronics EVAL-L99DZ100G Entwicklungskit, Evaluierungsplatine Halbbrücken-Treiber, für Türzonenanwendungen

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RS Best.-Nr.:
175-1101
Herst. Teile-Nr.:
EVAL-L99DZ100G
Hersteller:
STMicroelectronics
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Marke

STMicroelectronics

Produkt Typ

Entwicklungskit

Leistungmanagement Funktion

Halbbrücken-Treiber

Zur Verwendung mit

Türzonenanwendungen

Kit-Klassifizierung

Entwicklungsboard

Vorgestelltes Gerät

EVAL-L99DZ100G

Kit-Name

Evaluierungsplatine

Normen/Zulassungen

RoHS

Ursprungsland:
IT
EVAL-L99DZ100G und EVAL-L99DZ120 sind Evaluierungsplatinen für Türzonenanwendungen. Beide bestehen aus der gleichen Hauptplatine und unterscheiden sich durch die Tochterplatine, auf der der L99DZ100G in der EVAL-L99DZ100G-Tasche (konzipiert für Vordertür-Anwendung) oder der L99DZ120 in der EVAL-L99DZ120-Tasche (konzipiert für Hintertür-Anwendungen) vormontiert ist.

Interner 10-Bit-PWM-Zeitgeber für jeden eigenständigen HS-Treiber

Gepufferte Versorgung für Spannungsregler und 2 Hochspannungstreiber (OUT15 und OUT_HS / beide P-Kanäle) zur Versorgung z. B. externer Kontakte

Programmierbare Sanftanlauffunktion zur Ansteuerung von Lasten mit höheren Einschaltströmen als Strombegrenzungswert (für OUT1-6, OUT7, OUT8 und OUT_HS) mit thermischer Ablauffunktion

Steuerblock für elektro-verchromtes Element (nicht im L99DZ120 vorhanden)

Zwei 5-V-Spannungsregler für Mikrocontroller und Peripherieversorgung

Konfigurierbarer Fenster-Watchdog

LIN 2.2a-konformer Transceiver (SAEJ2602-kompatibel)

Advanced Hochgeschwindigkeits-CAN-Transceiver mit lokaler Fehler- und Busausfalldiagnose und selektiver Aktivierungsfunktion (nicht im L99DZ120 vorhanden)

Getrennter (isolierter) ausfallsicherer Block mit 2 LS (RON = 1 mΩ) zum Herunterziehen der Gates der externen HS MOSFETs

Thermische Cluster

A/D-Umwandlung von Versorgungsspannungen und internen Temperatursensoren

Integrierte und programmierbare VS-Arbeitszykluseinstellung für LED-Treiberausgänge

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