Tektronix Funktionsgenerator, USB A, USB B

Der Arbiträrgenerator von Tektronix mit 2 Kanälen, die Frequenzen bis 60 MHz unterstützen. Sie wurde für Bildungseinrichtungen entwickelt, die ihre Labore mit modernen, flexiblen Prüfgeräten ausstatten möchten, die eine hohe Leistung zu einem attraktiven Preis bieten. Zu den wichtigsten Leistungsmerkmalen gehören Zweikanal, hohe Bandbreite, 14 Bit vertikale Auflösung und 1 μHz Frequenzauflösung. Der Funktionsgenerator bietet 50 integrierte Standardfunktionen und arbiträre Signalformen mit Dauer-, Modulation-, Wobbel- und Burst-Modi für praktisch alle Prüfanforderungen in Lehrlaboren. Mit seiner hohen Auflösung bietet er eine einfache und präzise Methode zur Durchführung von Frequenz-, Perioden-, Impuls-, Breite- und Tastzyklusmessungen. Das Gerät verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche mit Tastenkombinationen und einen Drehknopf für schnelle Einstellungen. Die zwei Kanäle sparen Kosten und wertvollen Platz. Dieses Gerät hat verschiedene Anwendungen wie elektrische und elektronische Experimente, Kommunikationsexperimente, Sensorsimulationen und Funktionsprüfungen. Es wird standardmäßig mit 5 Jahren Garantie und kostenloser ArbExpress-Software geliefert.

• 5 Jahre Garantie inklusive
• 300 MS/s Abtastrate und 14 Bit vertikale Auflösung für ausgezeichnete Signaltreue
• Ausgangsamplitude: 1 mVp-p bis 10 Vp-p über den gesamten Frequenzbereich
• 2 bis 8.192-Punkt-Speicher für arbiträre benutzerdefinierte Wellenformen
• 64 Mbyte interner, nicht flüchtiger Speicher für arbiträre Wellenformen
• Standard-USB Host/Gerät für Speichererweiterung und Fernsteuerung
• Dauer-, Sweep-, Burst- und Modulationsmodi
• Integrierter Zähler mit 200 MHz und 6 Stellen
• Kompakte Form zum Aufsetzen auf andere Tischgeräte und mehr Platzersparnis
• Intuitiv verständliche Benutzeroberfläche
• Kostenlose Software ArbExpress zur einfachen Bearbeitung benutzerdefinierter Wellenformen

• Automobilindustrie
• Batterieprüfung
• Embedded Design
• Leistungsmessung und -analyse
• Unterrichtswesen
• Fertigungstests/Fehlerbehebung
• Prüfung von Halbleitern